介绍：
半导体检测是制造集成电路（又称微芯片）过程中至关重要的一步，通常采用多种技术，以激光为主，对半导体晶圆和其他组件进行精密检查，以发现可能影响最终产品性能或功能的缺陷或瑕疵。
激光在保障现代半导体的质量和精度方面发挥着至关重要的作用。这些微小的电子器件依赖于极其微小的特征和结构，而激光提供了进行有效检验和测量所需的精确性、控制以及非破坏性能力。
常用波长：
375nm，405nm，488nm
推荐激光器：
M-BIOS自由空间激光器 M-BIOS单模光纤激光器
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