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配置IR专用物镜,可用于透过硅材料成像,进行半导体检查和测量奥林巴斯BX/MX系列红外显微镜配备的5X到100X红外(IR)物镜,提供了从可见光波长到近红外的像差校正。对于高放大倍率的物镜,配备了LCPLN-IR系列带校正环的物镜,校正由样
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LEXT™OLS51003D激光扫描显微镜用于材料分析的激光显微镜更智能的工作流程,更快速的实验设计适用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光显微镜将卓越的测量精度和光学性能与智能工具相结合,让显微镜更加方便使用。通过快速高效ji
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仅需一套系统即可同时应对初步检验和微米级分析减少观察过程中的反复尝试,提高检验速度使用一台仪器即可进行初步的宏观分析和详细的微观分析为您的分析选择z佳的镜头我们的全套物镜系列共包含17种物镜,可在各种放大倍率下获得丰富的图像工作距离长
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从多角度观察您的样品DSX1000倾斜型查看整张图片:23X至8220X放大倍率范围单击即可无缝切换放大倍率,进行从宏观分析到细节的观察。可供选择的多种镜头,让您能为样品找到z佳的放大倍率、分辨率和工作距离在您倾斜变焦头部时,光学器
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可生成高分辨率图像以进行高级分析DSX1000高分辨率型在所有放大倍率下的所有观察方法在所有放大倍率下以6种观察方法观察您的样品一键式切换观察方法物镜兼具长工作距离和高分辨率快速电动光学变焦转动操控手柄上的旋钮即可实现光学缩放,单个物
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6种观察方法和高级测量功能DSX1000高端型高速捕获高分辨率3D图像凭借显微镜的优化算法,按下按钮即可快速获取3D图像改进的拼接算法,提供无明显边界的清晰图像始终了解您的角度通过显微镜的编码硬件,您可实时跟踪图像的倾斜和旋转